ファインシステムは

イオンマイグレーションテスターや LEDテスターなど、高精度かつ多チャンネルな各種信頼性評価装置の設計/製造を行っている計測器メーカーです。

NEW! HRslim小型絶縁信頼性テスタ

HR300シリーズの機能はそのままに

slot形式を廃することで、小型軽量・

省スペース・低価格を実現しました。

詳しくはこちらをご覧ください。

NEW! HR300 高電圧ユニット HV-1500/HV-10000

既存の高電圧ユニットHVシリーズ(3kV/6kV)

に１.5kVと10kVが新たに加わりました。

詳しくはこちらをご覧ください。

NEW! LD-2000 多機能LEDテスター

生産現場から研究用途まで幅広く使える

多機能LEDテスターを発売！

詳しくはこちらをご覧ください。

当社では、以下の分野についての信頼性評価装置を取り揃えております。

絶縁信頼性分野	絶縁抵抗エレクトロケミカルマイグレーションイオンマイグレーション
導通信頼性分野	接触抵抗（微少抵抗）エレクトロマイグレーションイベント（瞬断）
コンデンサ分野	コンデンサ特性コンデンサ寿命
半導体分野	MOSデバイスゲート酸化膜破壊（TDDB）ホットキャリアによるVthシフト(NBTI)

ファインシステムでは、計測基板・ファームウェア・Windowsソフトウェアの全てを自社開発しています。

弊社製品の評価用にお客様の試料を測定致します。無料貸出もご用意してあります。お問い合わせください。

特注計測システムの開発も承ります。お問い合わせください。

受託開発(アナログ回路、デジタル回路、Windowsアプリ、組込ソフト)も承ります。お問い合わせください。

2012/03/29

Finesystem