イオンマイグレーション、エレクトロケミカルマイグレーション 等の絶縁劣化を多チャンネルで測定！

イオンマイグレーション(エレクトロケミカルマイグレーション) 評価や絶縁抵抗試験が多chで高精度な測定が可能です。
印加電圧は、100V/120V/250V/500V/1kV/パルスボードから幅広く選択可能です。
高電圧ユニット HV-1500/HV-3000/HV-6000/HV-10000を追加することで、1.5kV～10kV印加の高電圧絶縁抵抗測定が可能です。

 

イオンマイグレーションとは

イオンマイグレーションとは、プリント基板などでソルダーレジストとパターンを構成する金属が電気化学反応を起こし、本来絶縁状態にあるパターン間に導電 性物質が溶出してショートさせてしまう現象です。製品故障の原因のひとつとされており、現象を誘発するストレス要因としては温度・湿度・電界(電圧)など が挙げられます。イオンマイグレーションの正式名称は、エレクトロケミカルマイグレーションです。

 

特徴

測定速度 40msec/8ch
チャンネル数 8 ～ 128ch
最大印加電圧 100V/120V/250V/500V/1kV
温湿度入力 温度計測ボード・ソフトウェアから入力可
最大イオンマイグレーション収録 200 回 / ch

 

用途

・プリント基板のイオンマイグレーションを評価

・プリント基板・絶縁材料の絶縁抵抗試験

・パルスストレスによるLCD やPDP の絶縁評価

・パワーモジュール関連素材の耐圧評価

 

実測データ

pass_graph.png

このグラフは、HR300を 使用してTHB試験を行い、イオンマイグレーションをとらえたグラフです。このグラフから判るように、イオンマイグレーションの初期症状としてオープン ショートを繰り返します。これは、デンドライト状に溶出した導電性物質が、ショートした瞬間の大電流により切れてしまい絶縁状態に戻ってしまうためです。 時間が経過していくと次第にこのオープンショート現象が多くなり、最終的には製品の故障に至ります。但し、ショートしている時間は数百msec以下である ため、通常の絶縁抵抗計では測定することができません。正確に現象をとらえるには、高速連続測定が要求されます。また、HR300ではイオンマイグレーション中の詳細データやグラフも表示可能です。

 

高電圧による耐圧評価

HVユニットを組み合わせると最大10kVまでの耐圧評価が可能です。
多ch 同時での高絶縁材料の耐電圧試験や絶縁信頼性評価に最適です。
高出力タイプでは、追従電流が3. 2mA/ch であるため、パワーデバイス系の耐圧試験も可能です。

 

 

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19インチラック

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11slot筺体

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4slot筺体

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高電圧ユニット