電気的瞬断を50nsecの高速サンプリングで 捉える！

コネクタの瞬断や半田の接続信頼性評価等に最適です。
DC電流1.2mA/12mA印加ボード、または10mA/100mA/1A印加ボードが選択可能。
イベント(瞬断)検出は、50nsecサンプリングまたは100nsecサンプリングで検出可能です。
イベントは、計測ボード内でメモリに保持するため、連続発生するイベントも取り逃がしません。
イベントの立ち上がりと立ち下がりの両方を検出するため、イベント幅も分かります。
イベトンを高速に検出する以外に、抵抗値の測定も最速100msec周期で収録可能。
熱衝撃チャンバーとの温度同期、振動機や繰り返し曲げ機、落下試験器、摺動試験機等のメカとの同期も可能です。

特徴

イベント検出速度 50nsec サンプリング
メモリー長 40 イベント / ch
イベント検出数 最大1000 回 / ch
最大印加電流 1A / ch
チャンネル数 32 ～ 1024ch（32ch/ ボード）
抵抗値測定間隔 0.1 ～ 3600sec
外部信号入力 温度・振動周波数・サイクル

 

 

 

 

 

 

 

用途

・振動/ 衝撃ストレスによる｢車載機器｣や｢車載センサ｣などの瞬断検出

・機械的応力ストレスによる ｢携帯電子機器の稼動部基板｣の瞬断検出

・落下衝撃ストレスによる ｢携帯電子機器の信号伝送路｣の瞬断検出

・衝撃ストレスによる｢コネクタ｣の瞬断検出

・挿抜ストレスによる｢コネクタ｣の接触抵抗の測定

 

 

実測例

以下のグラフは、 劣化したコネクタに振動を加え振動周波数とコネクタの導通信頼性の間にはどのような関係があるか実験し結果です。

f_e_graph.png

経過グラフ

青線：抵抗値　赤線：振動周波数

histogram.png

ヒストグラム


 

hr_rack.png

19インチラック

chassis_mini.jpg

4slot筺体

FP3013.JPG

SMUボード